Abarca Sigcho, Marlon Enrique, y Guido Patricio Santillán Lima. «Caracterización De La concentración De Material Particulado Sedimentable En El Parque Industrial Ambato Mediante SIG, geoestadística Y microscopía». Technology Rain Journal 4, no. 2 (julio 22, 2025). Accedido octubre 21, 2025. http://technologyrain.com.ar/index.php/trj/article/view/82.