Abarca Sigcho, Marlon Enrique, y Guido Patricio Santillán Lima. «Caracterización De La concentración De Material Particulado Sedimentable En El Parque Industrial Ambato Mediante SIG, geoestadística Y microscopía». Technology Rain Journal, vol. 4, n.º 2, julio de 2025, doi:10.55204/trj.v4i2.e82.