Abarca Sigcho, Marlon Enrique, y Guido Patricio Santillán Lima. 2025. «Caracterización De La concentración De Material Particulado Sedimentable En El Parque Industrial Ambato Mediante SIG, geoestadística Y microscopía». Technology Rain Journal 4 (2). https://doi.org/10.55204/trj.v4i2.e82.