ABARCA SIGCHO, Marlon Enrique; SANTILLÁN LIMA, Guido Patricio. Caracterización de la concentración de material particulado sedimentable en el Parque industrial Ambato mediante SIG, geoestadística y microscopía. Technology Rain Journal, [S. l.], v. 4, n. 2, 2025. DOI: 10.55204/trj.v4i2.e82. Disponível em: http://technologyrain.com.ar/index.php/trj/article/view/82. Acesso em: 21 oct. 2025.